ZETIUM
La espectrometría de fluorescencia de rayos X (XRF) ofrece un análisis elemental de una amplia gama de materiales, como sólidos, líquidos y polvos sueltos. Diseñado para cumplir con las aplicaciones de I+D y el control de proceso más exigentes, el espectrómetro Zetium lidera el mercado en diseño de alta calidad y funciones innovadoras para análisis de sub-ppm a porcentaje desde berilio hasta americio.
Características
- Rango analítico de berilio a americio.
- Rango de concentración de ppm a 100% en peso.
- Optimización de potencia de 1 a 2,4, 3 o 4 kW para una sensibilidad mejorada y tiempos de análisis más rápidos.Gama de materiales anódicos Rh, Cr, Mo y Au del tubo de rayos X para un rendimiento específico de aplicaciones.
- Detector dúplex para sensibilidad mejorada y un rango dinámico más amplio para el análisis de metales de transición.
- Detector de centelleo de alto rendimiento para mayor rango dinámico de elementos pesados (lineal de hasta 3,5 Mcps), ideal para análisis de alta precisión de niobio y molibdeno en aceros.
- Análisis y mapeo de punto pequeño.
- Tecnología SumXcore: reducción de los tiempos de medición de hasta el 50 %, con un programa ED
- Tubos de Rayos-X robustos y libres de deriva.
- Revestimiento de la ventana del tubo de rayos X CHI-BLUE para mayor durabilidad del tubo de rayos X y resistencia a la corrosión
- Cambiador de muestra de alta capacidad (hasta 209 posiciones) para aplicaciones de alto rendimiento
- Análisis secuencial de cal libre y XRF con el núcleo THETA.
- Identificación del tipo de muestra (sólidos y líquidos)
- Máscaras del colimador programables para tamaños de muestra de entre 6 mm y 37 mm.
Beneficios y ventajas
- Diseño compacto
- Capaz de realizar análisis elementales de una amplia gama de materiales, incluidos sólidos, líquidos y polvos sueltos.
- Manejo flexible de muestras.
- Software sencillo e intuitivo con Virtual Analyst
- Exactitud y reproducibilidad inigualable.
- Capacitación y entrenamiento personalizado.
- Costo casi nulo en reactivos.
- Preparación de muestra casi nula.
- Mantenimiento rápido del instrumento y tiempo de inactividad mínimo.
Aplicaciones
